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  • VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦
    VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦

    中圖儀器VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。

    時(shí)間:2024-06-17型號(hào):VT6100訪問量:496
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  • NS200薄膜厚度測(cè)量臺(tái)階儀
    NS200薄膜厚度測(cè)量臺(tái)階儀

    中圖儀器NS系列薄膜厚度測(cè)量臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。它是一種常用的膜厚測(cè)量?jī)x器,它是利用光學(xué)干涉原理,通過測(cè)量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度,具有測(cè)量精度高、測(cè)量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。它可以測(cè)量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問量:598
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  • NS200沉積薄膜臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x
    NS200沉積薄膜臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x

    中圖儀器NS系列沉積薄膜臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測(cè)量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問量:549
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  • VT6100激光共聚焦3D測(cè)量粗糙度顯微鏡
    VT6100激光共聚焦3D測(cè)量粗糙度顯微鏡

    中圖儀器VT6000激光共聚焦3D測(cè)量粗糙度顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-19型號(hào):VT6100訪問量:565
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  • NS200高精度臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x
    NS200高精度臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x

    中圖儀器NS系列高精度臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。它能夠測(cè)量納米到330μm甚至1000μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問量:538
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  • NS200高精度薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    NS200高精度薄膜厚度測(cè)量?jī)x

    NS系列高精度薄膜厚度測(cè)量?jī)x線性可變差動(dòng)電容傳感器(LVDC),具有亞埃級(jí)分辨率,13um量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。線性可變差動(dòng)電容傳感器(LVDC),具有亞埃級(jí)分辨率,13um量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。它可以測(cè)量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問量:647
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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā),能以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-06-19型號(hào):SuperViewW1訪問量:625
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  • SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀
    SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀

    中圖儀器SuperViewW科研級(jí)三維白光干涉儀基于白光干涉原理,用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-20型號(hào):SuperViewW1訪問量:577
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