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  • NS200臺(tái)階儀高精度薄膜厚度與臺(tái)階高度測(cè)量
    NS200臺(tái)階儀高精度薄膜厚度與臺(tái)階高度測(cè)量

    臺(tái)階儀高精度薄膜厚度與臺(tái)階高度測(cè)量軟件包含多個(gè)模塊。500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像機(jī),即時(shí)進(jìn)行高精度定位測(cè)量??梢詫⑻结樀男蚊矆D像傳輸?shù)娇刂齐娔X上,使得測(cè)量更加直觀。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:550
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀

    除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:732
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  • SuperViewW1白光干涉粗糙度儀
    SuperViewW1白光干涉粗糙度儀

    SuperViewW1白光干涉粗糙度儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:517
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  • VT6100共聚焦高精度三維顯微鏡
    VT6100共聚焦高精度三維顯微鏡

    自設(shè)計(jì)之初,VT6000共聚焦高精度三維顯微鏡便定下了“簡(jiǎn)單好用”四字方針的目標(biāo)。儀器采用自研的電動(dòng)鼻輪塔臺(tái),并對(duì)軟件防撞設(shè)置與硬件傳感器防撞設(shè)置功能進(jìn)行了優(yōu)化,確保共聚焦顯微鏡在使用高倍物鏡僅不到1mm的工作距離時(shí)也能應(yīng)對(duì)。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:639
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  • NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀廠商
    NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀廠商

    中圖儀器國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀廠商N(yùn)S系列臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。能夠測(cè)量納米到330μm甚至1000μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:811
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  • VT6100光伏檢測(cè)儀器3D顯微鏡輪廓儀
    VT6100光伏檢測(cè)儀器3D顯微鏡輪廓儀

    在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中,VT6000光伏檢測(cè)儀器3D顯微鏡輪廓儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。它基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:666
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  • SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀
    SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀

    SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,在半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:649
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  • NS200臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度儀器
    NS200臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度儀器

    NS系列臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度儀器是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測(cè)量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:587
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