簡(jiǎn)要描述:中圖儀器的SuperView W1三維白光形貌干涉儀一體化操作的測(cè)量與分析軟件,提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能,可實(shí)現(xiàn)批量測(cè)量功能。能真實(shí)地反映零件表面的特征以及衡量表面的質(zhì)量。
詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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外形尺寸 | 900x700x604mmmm | 重量 | 90kg |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 | 測(cè)量范圍 | 140x110x100mm |
準(zhǔn)確測(cè)量和評(píng)價(jià)精密加工件的三維形貌,對(duì)提高加工表面的質(zhì)量和產(chǎn)品性能有重要的意義。在超精密加工顯微測(cè)量場(chǎng)景中,中圖儀器SuperView W1三維白光形貌干涉儀發(fā)揮的作用可以用“見一葉而知深秋,窺一斑而見全豹"來形容。大多數(shù)的場(chǎng)景只需要檢測(cè)一個(gè)數(shù)十、數(shù)百微米的區(qū)域,就能達(dá)到效果,但是在少數(shù)超精密器件的三維形貌場(chǎng)景中,借助中圖儀器的白光干涉儀自動(dòng)拼接功能,可以實(shí)現(xiàn)高精度、大區(qū)域的測(cè)量。
產(chǎn)品參數(shù)
示例應(yīng)用
現(xiàn)有的接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量速度慢、易劃傷測(cè)量表面的缺點(diǎn),而單一的光學(xué)非接觸測(cè)量方法難以完成對(duì)大面形或曲率較大的高反射曲面零件三維形貌的高精度測(cè)量。中圖儀器SuperView W1白光干涉儀實(shí)現(xiàn)了超精密加工高反射曲面三維形貌的高精度非接觸測(cè)量。當(dāng)傳統(tǒng)測(cè)量?jī)x器必須測(cè)量超出適配鏡頭下的單視場(chǎng)區(qū)域時(shí),會(huì)采用自動(dòng)拼接,而中圖儀器的白光干涉儀,可根據(jù)不同表面特點(diǎn)進(jìn)行重建算法的切換,并且具有以下優(yōu)勢(shì):
1、行業(yè)領(lǐng)域和應(yīng)用對(duì)象廣
對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
2、軟件功能豐富
(1)多種數(shù)據(jù)處理方式;
(2)多種分析工具;
(3)可視化工作流模式;
(4)多樣化的視圖觀察角度;
(5)多種分析方案,可進(jìn)行一鍵分析;
(6)便捷的實(shí)時(shí)提取表面二維剖面,同步計(jì)算更新參數(shù)指標(biāo)的同步分析功能;
(7)多種報(bào)表形式。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1三維白光形貌干涉儀,分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、臺(tái)階高度、粗糙度、孔隙間隙、波紋度、表面缺陷、腐蝕情況、面形輪廓、彎曲變形情況、磨損情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
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