簡要描述:中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測??梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
產(chǎn)品分類
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品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,綜合 |
中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀專用于超精密加工領(lǐng)域,分辨率可達(dá)0.1nm,屬于3D測量領(lǐng)域高精度檢測儀器之一。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀采用經(jīng)國家計量檢測研究院校準(zhǔn)的臺階高標(biāo)準(zhǔn)片作為測量標(biāo)準(zhǔn)件,采用該標(biāo)準(zhǔn)片對儀器的檢測精度和重復(fù)性進(jìn)行驗收,其中臺階高標(biāo)準(zhǔn)片高度在4.7um左右,測量精度要求為<0.75%,重復(fù)精度要求<0.1%(1σ)(測量15次獲取的數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差),主要用于對樣品表面的2D、3D形貌進(jìn)行測量,主要測量參數(shù)為粗糙度、臺階高、幾何輪廓等。
產(chǎn)品型號:SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng):1024×1024
光學(xué)ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺:尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動、手動同時具備,均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程:100mm,電動
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
水平調(diào)整:±5°手動
粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm
臺階高測量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司
注釋:更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請聯(lián)系我們獲取
SuperViewW系列光學(xué)3d表面輪廓儀支持自動聚焦功能,只需將Z向調(diào)到貼近樣品表面(小于鏡頭工作距離),選擇好聚焦范圍,即可自動聚焦到樣品清晰成像表面并獲取干涉條紋。
一是非接觸高精密測量,不會劃傷甚至破壞工件;
二是測量速度快,不必像探頭逐點進(jìn)行測量;
三是不必作探頭半徑補正,光點位置就是工件表面測量的位置;
四是對高深寬比的溝槽結(jié)構(gòu),可以快速而準(zhǔn)確的得到理想的測量結(jié)果。
深圳市中圖儀器股份有限公司成立十多年來,一直堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),歷經(jīng)了十多年的技術(shù)積累和發(fā)展實踐,在微納米運動設(shè)計制造、微納米顯微測量三維重建、顯微測量3D形貌分析、大尺寸三維空間測量、精密傳感測頭、光柵導(dǎo)軌測控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計、制造優(yōu)勢,具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力。
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