簡(jiǎn)要描述:CHS452精密光學(xué)影像儀有放大作用,可作長(zhǎng)度、角度、形狀、表面等檢驗(yàn)工作。屬非接觸式、二次元測(cè)量, 尤其適合彈性、脆性材料的測(cè)量。除可利用照相、二次元坐標(biāo)處理機(jī)、數(shù)字顯示器、光眼讀取數(shù)據(jù)或自動(dòng)尋邊器、打印機(jī)等接口設(shè)備,還有可用與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)以達(dá)迅速、確實(shí)及統(tǒng)計(jì)分析等優(yōu)點(diǎn)。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),綜合 |
CHS452精密光學(xué)影像儀提供多達(dá)80種特征提取、輔助構(gòu)造、智能標(biāo)注、形位公差、特殊應(yīng)用等取分析工具;支持觸發(fā)測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭,進(jìn)行高度、平面度測(cè)量,實(shí)現(xiàn)3D空間測(cè)量。可用于機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、印刷電路板、鐘表、計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差等精密測(cè)量。
1.量測(cè)工具:掃描提取邊緣點(diǎn)、多段提取邊緣點(diǎn)、圓形提取邊緣點(diǎn)、橢圓提取、框選提取輪廓線、聚焦點(diǎn)、最近點(diǎn)等。
2.可測(cè)幾何量: 點(diǎn)、線、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、距、線寬、孔位、孔徑、孔數(shù)、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線中心到孔的距離、弧線中心到邊的距離、弧線高點(diǎn)到弧線高點(diǎn)的距離、交叉點(diǎn)到交叉點(diǎn)的距離等。
3.構(gòu)建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、極值點(diǎn)、端點(diǎn)、兩點(diǎn)連線、平行線、垂線、切線、平分線、中心線、線段融合、半徑畫(huà)圓、三線內(nèi)切圓、兩線半徑內(nèi)切圓等。
4.形位公差:直線度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對(duì)稱度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評(píng)定。
5.坐標(biāo)系:儀器坐標(biāo)系、點(diǎn)線、兩點(diǎn) X、兩線等工件坐標(biāo)系;圖像配準(zhǔn)坐標(biāo)系;可平移、旋轉(zhuǎn)、手工調(diào)整坐標(biāo)系。
6.快速工具:R角、水平節(jié)距、圓周節(jié)距、篩網(wǎng)、槽孔、輪廓比對(duì)、彈簧、O型圈等特殊工具快速測(cè)量。
7.支持公差批量設(shè)置、比例等級(jí)劃分、顏色自定義管理。
CHS452精密光學(xué)影像儀有放大作用,可作長(zhǎng)度、角度、形狀、表面等檢驗(yàn)工作。屬非接觸式、二次元測(cè)量, 尤其適合彈性、脆性材料的測(cè)量。除可利用照相、二次元坐標(biāo)處理機(jī)、數(shù)字顯示器、光眼讀取數(shù)據(jù)或自動(dòng)尋邊器、打印機(jī)等接口設(shè)備,還有可用與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)以達(dá)迅速、確實(shí)及統(tǒng)計(jì)分析等優(yōu)點(diǎn)。被廣泛應(yīng)用于大型鈑金件、背光板、絕緣材料、面版、邊框行業(yè)、塑膠制品、五金、模具、手機(jī)外殼、電子、銘牌、陶瓷、絕緣材料等領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)了大批量快速檢測(cè)。
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